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X射线折射装置

最终更新日期2019年3月12日

X射线折射装置的介绍

X射线折射装置的外观照片
X射线折射装置的外观


概要

特征

通过测量X射线照射样品并折射的X射线,可以获得样品中结晶的相关信息。主要用于结晶性物质的定性和定量分析,可以对薄膜、薄板状的样品和粉末样品进行非破坏分析。另外,本装置具备微部测定用的耦合器和照相机,可以测量0.5mm四方左右的区域。

原理

X射线照射物质的话,X射线会被物质中原子周围的电子散乱,发生互相干扰,在特定的方向加强的折射现象。由于观测到旋转X射线的角度是物质中结晶的构造(=原子的排列)而固有的,所以可以对样品中含有的晶体进行定性分析。

装置性能及规格

装置型号: Smart Lab(利加克制)
引进年月: 2018年2月

费用

委托考试手续费
区分学分金额
X射线折射装置1样品1测量点12900日元

关于费用

  • 关于试验、分析或制备需要特别的材料、劳力等的,以及研究或调查的手续费的金额,相当于实际费用。
  • 特别是规定期限需要紧急处理的手续费或使用费的金额是规定金额的2倍。
  • 横滨市内有事务所或事务所的人员,中小企业基本法第2条中规定的中小企业(外部网站)以外的委托所涉及的手续费或使用费的金额是规定金额的1.3倍(有不足100日元的尾数时,将尾数金额升值到100日元。)。
  • 横滨市内没有地址的人或者市内没有事务所或者事务所的个人或者法人或者其他团体的委托所涉及的手续费或者使用费的金额,是规定金额的1.5倍(有不足100日元的尾数时,将其尾数金额提高到100日元。)。

本页的咨询

经济局中小企业振兴部工业技术支援中心

电话:045-788-9000

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传真:045-788-9555

电子邮件地址:ke-kogyogijutsu@city.yokohama.jp

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